比长仪以不接触光学定位方法瞄准被测长度，阿贝立式比长仪，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。实验室测量校准设备厂家，阿贝立式比长仪功能，实验室测量校准设备价格，实验室测量校准设备销售
采用爱宾斯坦光学系统，可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电比长仪；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，阿贝立式比长仪，分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精准度为±1～±1.5微米/200毫米，光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米，而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。实验室测量校准设备厂家，实验室测量校准设备价格，实验室测量校准设备销售
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