TR-518FE完善的硬体架构设计
1、高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，测试机，待测物安全性最‘高
2、操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
3、大型主机设计，高密度Switching
4、率先引进HP TestJet技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果最’佳
5、应用IC Clamping Diode可辅助检测BGA开路空焊问题
6、辅助学习模组可检测IC反向问题
ict在线测试仪
Nand-TreeNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中，T518FD测试机，现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量。 ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。
