ict在线测试仪的通用功能
IC的测试 对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，在线测试机厂家，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如:与非门的测试对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测试机，测量对应输出，当作功能块测试。 2 非向量测试随着现代制造技术的发展，T518FD测试机，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加突出。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。
在线测试仪规格参数表
项目
详细参数
测试点数
标准配备:256点，可以每片开关板128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
最’大步骤: 12288步骤，可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.4mSec至25mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.01Ω至100MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准，0.1V至9.99V
选配HV，0.1V至48V 电感:1.0μH至250H
