ICT测试理论做一些简单介绍
1基本测试方法1.1模拟器件测试利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。 若待测Rx为电容、电感，T518FW在线测试机，则Vs交流信号源， 518FE测试机 ，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。 1.2 隔离（Guarding）上面的测试方法是针对独立的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，测试机，使Ix笽ref，测试时必须加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。 在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，ICT在线测试机，消除外围电路对测试的影响。
在线测试仪规格参数表
项目
详细参数
测试点数
标准配备:256点，可以每片开关板128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
最’大步骤: 12288步骤，可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.4mSec至25mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.01Ω至100MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准，0.1V至9.99V
选配HV，0.1V至48V 电感:1.0μH至250H
