比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪采用线纹尺作为已知长度，且结构设计符合阿贝原则(见长度测量工具)，量块比较仪出售，称为阿贝比长仪（见图[阿贝比长仪]）。测量时，量块比较仪功能，先用测量显微镜瞄准被测线条，从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台，再用测量显微镜瞄准另一被测线条，从读数显微镜读得另一数值。实验室测量校准设备厂家，实验室测量校准设备价格，量块比较仪应用，实验室测量校准设备销售
采用爱宾斯坦光学系统，可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电比长仪；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精准度为±1～±1.5微米/200毫米，光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米，量块比较仪，而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。实验室测量校准设备厂家，实验室测量校准设备价格，实验室测量校准设备销售
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