移动置片台﹐当对准显微镜从对准一条谱线到另一条谱线时﹐读数显微镜对准的毫米尺上的二次读数之差﹐即为谱线间的距离。根据阿贝提出的原理﹐只要待测对象和毫米尺精准地位于同一高度﹐置片台的滑动误差就不会影响测量精度。为了消除对准误差﹐可将底片转180°再测量一遍。Feinmess阿贝立式比长仪厂家，Feinmess阿贝立式比长仪价格，上海量块比较仪，Feinmess阿贝立式比长仪销售
采用爱宾斯坦光学系统，可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电比长仪；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精准度为±1～±1.5微米/200毫米，量块比较仪，光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米，扬州量块比较仪，而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。实验室测量校准设备厂家，实验室测量校准设备价格，实验室测量校准设备销售
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