测试治具与针床制作测试夹具、调试周期长，要精准测量加载的晶体管、可控硅、场效应管、流形和电阻器其他缺少设备的一般和特殊的组件，错了设备、参数的偏差。测试过程可以发现插错了元素、缺少设备、 针可予分开、 焊缝、 PCB 电路、断线和其他等故障，特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏，座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，治具，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移等。通过上面的介绍大家都知道了其实测试治具可以直接通过设备电气性能测试.
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